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國產冷熱沖擊箱

簡要描述:國產冷熱沖擊箱是一種重要的實驗設備,它能夠模擬真實環(huán)境中的急劇溫度變化,幫助用戶評估產品在各種溫度條件下的性能和耐久性。它在電子產品、汽車工業(yè)、航空航天有廣泛應用。

  • 產品型號AP-CJ
  • 廠商性質生產廠家
  • 更新時間2024-08-04
  • 訪  問  量2375

詳細介紹

品牌愛佩科技/A-PKJ應用領域電子,交通,綜合
 國產冷熱沖擊箱通過控制內部的加熱和制冷系統(tǒng),快速改變測試區(qū)域的溫度。通常,冷熱沖擊箱由三個主要部分組成:高溫區(qū)、低溫區(qū)和測試區(qū)。高溫區(qū)和低溫區(qū)通過不同的系統(tǒng)獨立地生成和維持所需的溫度。測試區(qū)位于兩個區(qū)域之間,允許樣品在溫度變化時進行測試。冷熱沖擊箱還配備了傳感器和控制系統(tǒng),可以精確控制溫度并記錄測試過程中的溫度變化。
  國產冷熱沖擊箱主要特點:
  快速溫度變化:能夠在很短的時間內進行快速的溫度變化,模擬真實環(huán)境中的急劇溫度變化。
  寬溫度范圍:它可以提供廣泛的溫度范圍,從極低溫度到高溫度,以滿足不同應用需求。
  精確控制和均勻性:具有精確的溫度控制和均勻性,確保測試結果的準確性和可重復性。
  多功能操作:可以進行單向沖擊、雙向沖擊和多向沖擊等多種測試方式,以滿足不同的需求。
  安全可靠:設備內置安全保護措施,如過溫保護、漏電保護等,確保使用時的安全性和可靠性。
  冷熱沖擊箱技術規(guī)格:
  1. 控制器:LCD液晶顯示觸摸屏控制器;
  2.工作槽溫度范圍:(A:-45),(B:-55),(D:-65)~150℃;
  3.高度槽溫度:60℃ - 200℃;
  4.高低溫沖擊試驗箱低溫槽溫度:(A:-65),(B:-70),(D:-80)~-10℃;
  5.溫度恢復時間:5分鐘以內;
  6.高低溫曝露時間:30分鐘
  7.內箱材質:霧面不銹鋼SUS304;
  8.外箱材質:霧面線條處理不銹鋼SUS304;
  9.壓縮機:*全密式壓縮機
  購選時,它們有各自的要求,沖擊溫度是指測試區(qū)實際能夠跑到的溫度zui大范圍。注意不是預熱和預冷室的極限溫度;內箱尺寸就是根據(jù)自己家的產品大小及數(shù)量來選擇;試驗負載直接影響能夠放置多少測試品。一般說來,這個重量越大越好;它是指測試品全部從一個溫度點切換到另外一個溫度點所耗費的時間。我們常見的規(guī)范約定≤5min。這個時間越小越好;除霜間隔時間越長越好?,F(xiàn)在有寫廠家能夠做到1000cycles除霜一次,是非常理想的。除霜間隔越短說明該設備的氣密性越差。
  型號及技術參數(shù)如下:
  50L內箱:350×350×400外箱:1560×1750×1440(分別是寬×高×深) (mm)
  80L內箱:500×400×400外箱:1700×1800×1440(分別是寬×高×深) (mm)
  100L內箱:600×400×400外箱:1800×1800×1440(分別是寬×高×深) (mm)
  150L內箱:600×500×500外箱:1800×1900×1540(分別是寬×高×深) (mm)
  250L內箱:700×600×600外箱:1900×2000×1640(分別是寬×高×深) (mm)
  480L內箱:800×800×750外箱:2020×2250×2150(分別是寬×高×深) (mm)
  常用于自動化零部件、電子電器零組件、汽車配件、通訊組件、金屬、塑膠等行業(yè)產品及零配件,航天、國防工業(yè)、兵工業(yè)、半導體陶瓷、電子芯片IC及高分子材料之物理性變化,測試其材料對高、低溫的反復沖擊力及產品于熱脹冷縮產出的化學變化或物理傷害,可確認產品的實際質量,從精密的IC到重機械的組件,無一不需要它作為理想的測試設備。


  冷熱沖擊箱分為兩廂式與三廂式,區(qū)別在于設備的內部構造與試驗方法有所不同。設備主要用于測試材料結構或復合材料,在瞬間下經(jīng)高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度,得以在最短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。通過實驗,可以了解產品相關性能和其抗沖擊能力。
 
  操作流程:
 
  1. 預處理:將被測樣本放置在正常的試驗大氣前提下,直至到達溫度不亂。
 
  2. 初始檢查:將被測樣本與尺度要求對照,符合要求后直接放入高低溫沖擊試驗箱內即可。
 
  3. 試驗:
 
  1) 試驗樣本應按尺度要求放置在試驗箱內,并將試驗箱 ( 室 ) 內溫度升,保持一定的時間至試驗樣本到達溫度不亂,以時間長都為準。
 
  2) 高溫階段結束后,在 5min 內將試驗樣本轉換到已調節(jié)到 -55 ℃的低溫試驗箱 ( 室 ) 內,保持 1h 或者直至試驗樣本到達溫度不亂,以時間長都為準。
 
  3) 低溫階段結束后,在 5min 內將試驗樣本轉換到已調節(jié)到 70 ℃的高溫試驗箱 ( 室 ) 內,保持 1h 或者直至試驗樣本到達溫度不亂,以時間長都為準。
 
  4) 重復上述實驗方法,以完成三個輪回周期。根據(jù)樣件大小與空間大小,時間可能會略有誤差。
 
  4. 恢復:試驗樣本從試驗箱內掏出后,應在正常的試驗大氣前提下進行恢復,直至試驗樣本到達溫度不亂。
 

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